環(huán)境試驗

依據(jù)
GB/T 2423.22-2012《環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》、
GB/T 2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db： 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）》、
GB/T 2423.3-2016 《環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗》、
GB/T 2423.1-2008《試驗A：低溫試驗方法》、
GB/T 2423.2-2008《試驗B：高溫試驗方法》
等國家標準對相關電子產(chǎn)品進行可靠性與環(huán)境試驗。